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南洋理工大学科学团队取得突破性进展,研发出可利用光线精准测量纳米(nanometre)单位的光尺,未来将能应用在提升电子产品的制造与质量控制过程。
南大昨天发文告指出,来自南大物理与数学科学学院的研究团队今年五月在《科学》(Science)期刊发表上述研究结果。

一般的显微镜能测量至400纳米以上,这已经小于一条头发约250倍,但科学家常须研究大小介于10至100纳米之间的病毒、纳米颗粒等,因此这样的精准度仍有不足之处。
目前,研究人员只能透过扫描电子显微镜(scanning electron microscope)等仪器测量纳米单位,不仅未必可行,过程也相当耗时,且需要昂贵的仪器才能操作。日后有了新研发的光尺,就能省却这些麻烦。
带领研究团队的尼古拉(Nikolay Zheludev)教授解释说,这项利用光线的测量方法未来将大有用途,例如在制造需要精确测量的电子产品等方面。
接下来,团队计划利用光纤电缆缩小仪器的尺寸,并将这把“光尺”推出市场,有望用以改善先进制造业(advanced manufacturing)的流程,包括制造通讯行业所需零件等。
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